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        第三代
        半導(dǎo)體測(cè)試家族
        Third generation semiconductor testing family
         
        
        
    
         
         
     
    
            
    
         
        
        
    
        
      
     
    
    
         
            
            
        
                  
        
                       
                       
           
                 
        
                 
        
           
                
                   

        
    
        
             
                   
                        
        
                            
        
                                
        
                                    
        
                                    
                                         
                                        
                                                   
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                
        
                            
        
                            
        
                                                        
                            
                            
                            
         
                        
        
             
        
             
        
                    
        
                             
        聯(lián)動(dòng)科技成功參展SEMICON CHINA 2018
        
                             
        
                             
         


        

                             
        
                             
        
                                                          
        
                    
        
             
        
    
          
    
        
    


   

        
	2018年3月14日至16日，Semicon China 2018在上海新國(guó)際展覽中心順利舉行。

        

        
	我公司展示了目前在半導(dǎo)體IC集成電路測(cè)試系統(tǒng)、Discrete測(cè)試系統(tǒng)和激光打標(biāo)系統(tǒng)的最新產(chǎn)品。包括：國(guó)內(nèi)自主研發(fā)首臺(tái)超大規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)QT-9000，數(shù)位模擬混合信號(hào)IC測(cè)試系統(tǒng)QT-8200/8100，分立器件測(cè)試系統(tǒng)QT-6000和QT-4100測(cè)試平臺(tái)，全自動(dòng)IC打印檢測(cè)系統(tǒng)QH-APV5090等先進(jìn)設(shè)備。

        

        
	
        

        

        
	
        

        

        
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