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      • 第三代
        半導(dǎo)體測(cè)試家族
        Third generation semiconductor testing family
        分類(lèi)
        重力式雙軌道分選機(jī)

        適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。 常高溫雙軌并測(cè),比單軌效率提高80%。 動(dòng)態(tài)測(cè)試Docking結(jié)構(gòu)雜散低于30uH。 提供30°C~200°C可調(diào)高溫測(cè)試環(huán)境。



        懸浮電源

        多Site并行

        多通道高精度

        支持多種擴(kuò)展

        型號(hào) 重力式雙軌道分選機(jī)
        產(chǎn)品介紹 適用TO-247、TO-220、TO-263、Tpak等封裝。
        功能 ? 常高溫雙軌并測(cè),比單軌效率提高80%。
        ? 動(dòng)態(tài)測(cè)試Docking結(jié)構(gòu)雜散低于30uH。
        ? 提供30°C~200°C可調(diào)高溫測(cè)試環(huán)境。