第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3107 LCR RG/CG 測試
自研LCR數(shù)字電橋，支持Mosfet RG/CG測試，也可以用于測試二極管的電容測試，分辨率1fF
|
支持雙DIE |
精度高抗干擾 |
測試速度快 |
擴展2KV偏置 |
| 型號 | QT-3107 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
采用數(shù)字電橋，抗干擾能力強，測試精度高； 測試時間比模擬電橋快2-3倍； 偏置電壓最高2KV； |
| 主要特點 |
測試分辨率1fF； 自帶±100V偏置源； 測試頻率：1MHz，擴展2MHz； 輸出幅度：0.025-2V; |
Testing standards檢測標準
|
中國廣東省佛山市南海國家高新區(qū)新光源產(chǎn)業(yè)基地光明大道16號 |
|
0757 83207313 (銷售) |
|
0757 83208786 (銷售) |
|
info@powertechsemi.com |
佛山市聯(lián)動科技股份有限公司 版權所有 powertechsemi.com ? 2015 | 隱私政策 | Sitemap 粵ICP備17127080號-1
