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      • 第三代
        半導(dǎo)體測(cè)試家族
        Third generation semiconductor testing family
        首頁 產(chǎn)品中心 半導(dǎo)體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
        分類
        QT-3107 LCR RG/CG 測(cè)試

        自研LCR數(shù)字電橋,支持Mosfet RG/CG測(cè)試,也可以用于測(cè)試二極管的電容測(cè)試,分辨率1fF



        支持雙DIE

        精度高抗干擾

        測(cè)試速度快

        擴(kuò)展2KV偏置

        型號(hào) QT-3107
        產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 采用數(shù)字電橋,抗干擾能力強(qiáng),測(cè)試精度高;
        測(cè)試時(shí)間比模擬電橋快2-3倍;
        偏置電壓最高2KV;
        主要特點(diǎn) 測(cè)試分辨率1fF;
        自帶±100V偏置源;
        測(cè)試頻率:1MHz,擴(kuò)展2MHz;
        輸出幅度:0.025-2V;




        Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)