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        第三代
        半導(dǎo)體測(cè)試家族
        Third generation semiconductor testing family
         
        
        
        首頁 產(chǎn)品中心 半導(dǎo)體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
        分類
        
    
         
         
     
    
            
    
      
     
    
    
         
            
            
        
                  
                 
        
           
                
                   

        
    
        
             
                   
                        
        
                            
        
                                
        
                                    
        
                                    
                                                        
                                                    
                    
                                 
                
                
                
                
                                        
                                                   
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                
        
                            
        
                            
        
                                                        
                            
                            
                            
         
                        
        
             
        
             
        
                    
        
                             
        QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試
        
                             
        QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試適用于測(cè)試 MOSFET、IGBT、二極管的雪崩參數(shù)
        
                             
         


        

        

        
	
		
        
			
				
        
					 
				
        
				
        
					支持雙DIE
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					快速充電
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					失效波形保存
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					鉗壓功能
				
        
			        		
		
        
	        

        
                             
        
                             
        
                                                          
        
                    
        
             
        
    
          
    
        
    

        
	
		
        
			
				型號(hào) 
			
			
				QT-3101 UIL
			
		
        
		
        
			
				產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 
			
			
				? 支持 VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I) 測(cè)試
        
? 可與 QT-4100B 共用一臺(tái)電腦，實(shí)現(xiàn)測(cè)試程序和數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理
        
? 可設(shè)定單脈沖、多脈沖或者雙 MOSFET 測(cè)試
        
? 輸出電流IDMAX 實(shí)時(shí)測(cè)量監(jiān)控和Energy讀取
        
? 電感內(nèi)阻低，ID充電快，測(cè)試時(shí)間更短
        
? 內(nèi)置示波器
        
			        		
		
        
		
        
			
				主要特點(diǎn) 
			
			
				? 輸出測(cè)量能力：最大測(cè)量 BVdss:±3000V 最大輸出 ID:±150V 、±200A
        
                      ? 可編輯 VG MAX:±30V脈寬調(diào)節(jié)（分辨率：1us）
        
                      ? 可編程電感箱負(fù)載 10μH-159.9mH 步進(jìn) 10μH
        
                      ? 可編程分選機(jī)接口信號(hào) 24 個(gè)