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      • 第三代
        半導(dǎo)體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
        首頁 產(chǎn)品中心 半導(dǎo)體測試 分立器件高速測試系統(tǒng)
        分類
        QT-6000 分立器件高速測試系統(tǒng)

        QT-6000分立器件高速測試機(jī),適用于測試中小功率二三極管、場效應(yīng)管等產(chǎn)品及晶圓,可拓展內(nèi)置電容測試(DC+CAP)、EAS、VC、pA模塊,也可擴(kuò)展外掛LCR(超高精度電容測試)、Scanbox等,應(yīng)用于FT量產(chǎn)測試或?qū)嶒?yàn)室測試。



        懸浮電源

        四象限電路

        高速測試

        支持多種擴(kuò)展

        型號 QT-6000
        產(chǎn)品優(yōu)勢 ? QT-6000分立器件高速測試機(jī),具備測試精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強(qiáng)等性能優(yōu)點(diǎn)。
        ? 采用四象限電路,可以很好的保護(hù)被測器件。
        ? 采用懸浮電源和全對稱結(jié)構(gòu)。
        ? 高速測試滿足UPH56K以上的分選機(jī)。
        主要特點(diǎn) ? 高速測試,UPH>40K
        ? 可一拖二實(shí)現(xiàn)100% FT+QA并行測試
        ? 先進(jìn)的電容高速測試方案,實(shí)現(xiàn)CAP+DC同工位測試
        ? 內(nèi)置UIS測試方案,實(shí)現(xiàn)DC+UIS同工位測試

        ? LCR精準(zhǔn)電容測試,最小測試電容值100fF

        電壓/電流(可選): 1200V/600V, 30A/ 10A/3A。





        Testing standards檢測標(biāo)準(zhǔn)
        Recommend推薦產(chǎn)品