第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
KGD(Known Good Die)測試解決方案
支持高溫常溫測試：DC+SW+UIL+DC&RG； 支持測試針卡保護方案； 提供測試+分選整套方案；
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針卡保護 |
兩顆并測 |
高溫常溫 |
數(shù)據(jù)合并 |
| 型號 | KGD測試解決方案 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢 |
? 低雜散解決方案； ? 獨家針卡保護專利技術(shù)； ? 過載欠壓保護； ? 一次測試兩顆晶片； ? 支援高溫加熱 |
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