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        第三代
        半導(dǎo)體測(cè)試家族
        Third generation semiconductor testing family
         
        
        
        首頁(yè) 產(chǎn)品中心 半導(dǎo)體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
        分類(lèi)
        
    
         
         
     
    
            
    
      
     
    
    
         
            
            
        
                  
                 
        
           
                
                   

        
    
        
             
                   
                        
        
                            
        
                                
        
                                    
        
                                    
                                                        
                                                    
                    
                                 
                
                
                
                
                                        
                                                   
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                
        
                            
        
                            
        
                                                        
                            
                            
                            
         
                        
        
             
        
             
        
                    
        
                             
        KGD(Known Good Die)測(cè)試解決方案
        
                             
        支持高溫常溫測(cè)試：DC+SW+UIL+DC&RG；
支持測(cè)試針卡保護(hù)方案；
提供測(cè)試+分選整套方案；
        
                             
         


        

        

        
	
		
        
			
				
        
					 
				
        
				
        
					針卡保護(hù)
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					兩顆并測(cè)
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					高溫常溫
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					數(shù)據(jù)合并
				
        
			        		
		
        
	        

        
                             
        
                             
        
                                                          
        
                    
        
             
        
    
          
    
        
    

        
	
		
        
			
				型號(hào) 
			
			
				KGD測(cè)試解決方案
			
		
        
		
        
			
				產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 
			
			
				? 低雜散解決方案；
        
                                            ? 獨(dú)家針卡保護(hù)專(zhuān)利技術(shù)；
        
                                            ? 過(guò)載欠壓保護(hù)；
        
                                            ? 一次測(cè)試兩顆晶片；
        
                                            ? 支援高溫加熱