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        第三代
        半導(dǎo)體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
         
        
        
        分類
        
    
         
         
     
    
            
    
      
     
    
    
         
            
            
        
                  
                 
        
           
                
                   

        
    
        
             
                   
                        
        
                            
        
                                
        
                                    
        
                                    
                                                        
                                                    
                    
                                 
                
                
                
                
                                        
                                                   
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                
        
                            
        
                            
        
                                                        
                            
                            
                            
         
                        
        
             
        
             
        
                    
        
                             
        Prober
        
                             
        適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動(dòng)探針測試。
自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。
全自動(dòng)CCD視覺對針定位。
高精度定位平臺。
支持常高溫測試。
實(shí)時(shí)生成Mapping顯示Bin。
通用GPIB、TTL、R-232接口。
        
                             
         


        

        

        
	
		
        
			
				
        
					 
				
        
				
        
					懸浮電源
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					多Site并行
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					多通道高精度
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					支持多種擴(kuò)展
				
        
			        		
		
        
	        

        
                             
        
                             
        
                                                          
        
                    
        
             
        
    
          
    
        
    

        
	
		
        
			
				型號 
			
			
				Prober
			
		
        
		
        
			
				產(chǎn)品介紹 
			
			
				適用于6、8″Si、SiC分立器件、功率器件、集成電路、射頻器件、光芯片等晶圓的自動(dòng)探針測試。
自動(dòng)上下片，Wafer ID讀取。 
        
			        		
		
        
		
        
			
				功能 
			
			
				? 全自動(dòng)CCD視覺對針定位。
        
       ? 高精度定位平臺。
        
       ? 支持常高溫測試。
        
       ? 實(shí)時(shí)生成Mapping顯示Bin。
        
       ? 通用GPIB、TTL、R-232接口。