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      • 第三代
        半導體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
         
        KGD handler

        全自動測試,支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。 多工位並行測試,不同工位支援不同溫度與測試項目。 靜態(tài)、動態(tài)、雪崩功能測試,且測試順序可調(diào)。 高溫預(yù)熱與晶片表面防氧化保護。 高溫測試,溫度範圍:室溫~200°C。 加電針卡為密封設(shè)計,支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監(jiān)測。



        懸浮電源

        多Site並行

        多通道高精度

        支援多種擴展

        型號 KGD handler
        產(chǎn)品介紹 全自動測試,支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。
        功能 ? 多工位並行測試,不同工位支援不同溫度與測試項目。
        ? 靜態(tài)、動態(tài)、雪崩功能測試,且測試順序可調(diào)。
        ? 高溫預(yù)熱與晶片表面防氧化保護。
        ? 高溫測試,溫度範圍:室溫~200°C。
        ? 加電針卡為密封設(shè)計,支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監(jiān)測。


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