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      • 第三代
        半導體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
         
        Prober

        適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動探針測試。 自動上下片,Wafer ID讀取。 全自動CCD視覺對針定位。 高精度定位平臺。 支援常高溫測試。 即時產(chǎn)生Mapping顯示Bin。 通用GPIB、TTL、R-232介面。



        懸浮電源

        多Site並行

        多通道高精度

        支援多種擴展

        型號 Prober
        產(chǎn)品介紹 適用於6、8″Si、SiC分立元件、功率元件、積體電路、射頻元件、光晶片等晶圓的自動探針測試。 自動上下片,Wafer ID讀取。
        功能 ? 全自動CCD視覺對針定位。
        ? 高精度定位平臺。
        ? 支援常高溫測試。
        ? 即時產(chǎn)生Mapping顯示Bin。
        ? 通用GPIB、TTL、R-232介面。


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