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        第三代
        半導體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
         
        
        
        首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 IC測試系統(tǒng)
        分類
        
    
         
         
     
    
            
    
         
        
        
          
        
           
             
        
                         
               
        
                
                
                
        
        
    
        
      
     
    
    
         
            
            
        
                  
        
                       
                       
          
                          
                                             
                       
     
                          
                          
                       
        
           
                 
        
                 
        
           
                
                   

        
    
        
             
                   
                        
        
                            
        
                                
        
                                    
        
                                    
                                                        
                                                    
                    
                                 
                
                
                
                
                                        
                                                   
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                    
        
                                
        
                            
        
                            
        
                                                        
                            
                            
                            
         
                        
        
             
        
             
        
                    
        
                             
        QT-8100 數(shù)模混合IC測試系統(tǒng) (Cable-Mount)
        
                             
        適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。
主要測試：電源管理類，數(shù)位消費類，馬達驅(qū)動類，音頻放大器、運算等。
        
                             
         


        

        

        
	
		
        
			
				
        
					 
				
        
				
        
					懸浮電源
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					多Site並行
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					多通道高精度
				
        
			        		
			
				
        
					 
				
        
				
        
					支援多種擴展
				
        
			        		
		
        
	        

        
                             
        
                             
        
                                                          
        
                    
        
             
        
    
          
    
        
    

        
	
		
        
			
				型號 
			
			
				QT-8100
			
		
        
		
        
			
				產(chǎn)品優(yōu)勢 
			
			
				
        
					數(shù)?；旌螴C測試系統(tǒng)適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試：電源管理類，數(shù)位消費類，馬達驅(qū)動類，音頻放大器、運算等
				
        
			        		
		
        
		
        
			
				主要特點 
			
			
				? 懸浮V/I源，四象限
        
    ? 由測試盒引出全資源，8site並測
        
    ? 數(shù)位速率100Mhz，向量深度8M
        
    ? 真並測，多路1000V/20A高壓大電流
        
    ? 18 bit 高精密採樣
        
    ? 20 個類比插槽（Max 216通道）/ 8 個數(shù)位插槽（ Max 128通道）
        
    ? 多通道高精度時間測量單元，支援ns等級時間測量
        
    ? 支援RF模組擴充
        
    ? PCIE 卡，測試效率更高
        
			        		
		
        
	        

        

        
                       
        
                       
        
                      
        

   
    
               
  
                
                
    
        
    
    
    
    
    
    
        
        
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