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      • 第三代
        電晶體測試家族
        Third generation semiconductor testing family
        首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 分立器件高速測試系統(tǒng)
        分類
        QT-6000 分立元件高速測試系統(tǒng)

        QT-6000分立元件高速測試機,適用於測試中小功率二三極體、場效電晶體等產(chǎn)品及晶圓,可拓展內(nèi)建電容測試(DC+CAP)、EAS、VC、pA模組,也可擴充外掛LCR( 超高精度電容測試)、Scanbox等,應(yīng)用於FT量產(chǎn)測試或?qū)嶒炇覝y試。



        懸浮電源

        四象限電路

        高速測試

        支援多種擴展

        型號 QT-6000
        產(chǎn)品優(yōu)勢 ? QT-6000分立元件高速測試機,具備測試精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強等性能優(yōu)點。
        ? 採用四象限電路,可以很好的保護被測元件。
        ? 採用懸浮電源和全對稱結(jié)構(gòu)。
        ? 高速測試滿足UPH56K以上的分選機。
        主要特點 ? 高速測試,UPH>40K
        ? 可一拖二實現(xiàn)100% FT+QA平行測試
        ? 先進的電容高速測試方案,實現(xiàn)CAP+DC同工位測試
        ? 內(nèi)建UIS測試方案,實現(xiàn)DC+UIS同工位測試
        ? LCR精準(zhǔn)電容測試,最小測試電容值100fF






        Testing standards檢測標(biāo)準(zhǔn)


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